2016/12/16 すべて, 機械関係, 試験測定, サンコウ電子研究所

デュアルタイプ(電磁・渦電流式兼用)膜厚計

メーカー ケツト科学研究所
型式 LZ-990
概要・用途

金属上の膜厚測定を行う。
仕様 [測定膜厚範囲] 0から3mm[最低必要平面] φ22mm
使用料 １時間　:700円
１日　　:1,500円
依頼試験:500円
写真
その他 ID：17、区分１：機械、区分２：試験測定